Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę ""Babiński, Adam"" wg kryterium: Wszystkie pola


Wyświetlanie 1-10 z 10
Tytuł:
Relative reflection difference as a method for measuring the thickness of the exfoliated MoSe₂ layers
Współwytwórcy:
Szczytko, Jacek (fizyk). Autor
Król, Marcin (fizyk). Autor
Grzeszczyk, M. Autor
Norowski, Konrad. Autor
Piętka, Barbara. Autor
Lekenta, Katarzyna. Autor
Łempicka, Karolina. Autor
Babiński, Adam. Autor
Data publikacji:
2017
Tematy:
Cienkie warstwy (technika)
Spektroskopia Ramana
Właściwości optyczne
Pokaż więcej
Dostawca treści:
Academica
article
    Wyświetlanie 1-10 z 10

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies